주사전자현미경(SEM),SEM

20713820

주사전자현미경,Hitachi,JP/S-4800,SEM

공동실험실습관

혜성관 206호 주사전자현미경실

2016-02-01

Scanning electron microscopes

Scanning electron microscopes, 주사전자현미경(SEM)

SE image resolution 2nm at 1kV, 1nm at 10kV electron gun cold field emission electron source Acc. voltage 0.5~30kV(variable at 0.1kV/step) Magnification X30~X800,000 stage control 5 axis motor control accessory deceleration function(Min. voltage lowers to 0.1kV)

옵션/기타 무,크기(폭):4.95㎡

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